The Environmental Benefits of Photovoltaic Power Generation

Photovoltaic (PV) power generation is a clean and renewable energy technology that offers significant environmental benefits. First, solar power produces no greenhouse gases or air pollutants during operation, effectively reducing carbon dioxide emissions and helping to mitigate global warming. Second, unlike fossil fuel-based power generation, PV systems do not require the burning of coal or oil, thus avoiding ecological damage and pollution caused by resource extraction. Additionally, solar panels operate silently and require minimal maintenance, eliminating noise pollution and making them suitable for urban and residential areas. Compared to traditional thermal power plants, photovoltaic systems also conserve large amounts of water, reducing pressure on aquatic ecosystems. With technological advancements and decreasing costs, solar power installations are becoming increasingly widespread, supporting global efforts toward carbon neutrality and sustainable development. Promoting photovoltaic energy not only improves air quality but also helps preserve natural resources, making it a key pathway to a greener, low-carbon future.

Featured products

太阳光谱辐射计 S-2440

用于光源测量和太阳能电池评估即时测量所有类型太阳模拟器的辐射光谱,例如 脉冲光和恒定光 这是一款低成本、低成本的紧凑型光谱辐射计,具有光谱一致性判断功能。 它对太阳和太阳模拟器的辐射波长实现了最佳灵敏度特性,覆盖了300~1100nm的宽测量波长范围。 这样就可以对硅基、染料敏化和有机薄膜太阳能电池的波长范围进行全面分析。 此外,它每1毫秒连续跟踪一次脉冲光的光谱变化,并通过触发的外部同步测量支持脉冲太阳模拟器测量。
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MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms(样品电阻率>0.3Ohmcm)SEMI标准PV9-1110
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MDPspot 单点少子寿命测试仪

低成本桌面单点测量硅片或晶砖,用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品,无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品,高达156毫米硅砖,结果可视化的标准软件。
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WAFER PROFILER CVP21

The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler (CV-Profiler, C-V-Profiler) furthermore is a very good choice to analyze or develop strategies for Photo-Electrochemical Wet Etching (PEC-Etching) of semiconductors
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Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
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PIDcon bifacial 台式潜在诱导退化测试仪

特性 根据IEC 62804-TS标准方法 易于使用的台式设备 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块 无需气候室 不需要电池层压 测量速度:小时到天 可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度 太阳能电池可以通过EL等进行研究 基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持
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Sinton BLS-1 少子寿命测量仪

Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
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傅里叶红外光谱仪FTIR4000

FTIR4000傅里叶红外光谱仪利用干涉仪干涉调频的工作原理,把光源发出的光经迈克尔逊干涉仪变成干涉光,再让干涉光照射样品,接收器接收到带有样品信息的干涉光,再由计算机软件经傅立叶变换即可获得样品的光谱图。 傅里叶变换红外吸收光谱(FTIR)是研究各种分子在红外波段发射或吸收辐射规律与分子结构关系的有力工具,主要用于物质结构的分析。
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TLM-SCAN+

TLM-SCAN+ Contact resistivity and more This compact instrument measures contact resistivity, finger line resistance, finger width, and finger height of a finished solar cell or on test structures. Motorized in all axes it is capable of creating maps of all these methods by pushing a single button. Four point probe heads for measuring the sheet resistance of thin diffused layers and resistivity of wafers make the TLM-SCAN+ a low-cost yet fast and high-quality four-point-probe mapper.
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FPP-SCAN

Four-point-probe mapping with handling system This off-line instrument is a sheet resistance mapper for the automatic measurement of a stack of more than 100 wafers. The handling time is around 10 seconds, the supported wafer size is between 70 x 70 mm and 166 x 166 mm. This compact instrument is motorized in all axes to create mappings of sheet resistance and wafer resistivity with 100 points in less than 4 minutes. Single points can be re-measured after navigating the probe head to the desired location with a click on the map.
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光致发光检测仪-LIS-R3 Name & model: Luminescence Imaging System – model LIS-R3

LIS-R3 光伏实验室的“高级标配” LIS-R3是一台全新升级的高级实验室设备,适用于硅块、硅棒、硅片、太阳能电池和小组件。根据多年发展以及不断改进,很多领先的研究机构以及硅片、电池、组件生产商正在使用该设备。主要应用包括工艺改进、实验室研发、工艺调试和根源问题分析、质量保证与质量控制,及安装过程和设备终验收过程的提速。LIS-R3 应用了BT imaging专利的光致发光技术和Rs成像、电致发光成像、偏压PL成像、QSS-PC注入水平决定的少子寿命曲线、校准少子寿命成像、深度的图像处理算法自动得出的硅片和硅碇缺陷参数、Suns-Voc曲线、暗场及光场IV测试,加上LIS-R系列软件更新包的一系列新的分析方法。 LIS-R2-Plus 光伏实验室和质量控制方面的全能型研发设备 LIS-R2-Plus得益于BT Imaging的大量开发工作,降低了原有LIS-R2实验室设备的成本。现在我们通过降低新的LIS-R2设备售价的方式,将福利回馈给客户。全新的LIS-R2-Plus是领先的综合性PL实验室测量设备,可测硅块、硅片和电池。它也适用于电池生产线中的抽样检查,帮助实现快速的每条工艺产线上的反馈和调试。由BT Imaging大量专利支持。 iLS-W3 产线硅片检测 iLS-W3是拥有全新设计的软硬件的终极硅片电学质量检测模块,是用于硅片和电池产线的检测系统。该设备融合了BT Imaging的专利PL成像技术,测片速度高达5400片每小时。有众多光致发光专利和市场领先的算法的在线PL检测机台。典型使用案例包括硅片拒收、通过电池效率预测进行硅片质量分选、硅片和电池R&D,及产线工艺改进以及调试。 iLS-C3 产线电池缺陷检测 iLS-C3是针对产线电池最新推出的连续性PL成像检测模块,是比EL成像检测更快且不接触检测样品的方式。利用自动成像算法,iLS-C3可以在生产过程中找到一片电池的所有缺陷并选择拒收。该模块的配置可以针对过程片PL检测。 LIS-B3 产线硅块与晶棒检测 LIS-B3是BT Imaging的最新硅块和晶棒产线的检测设备,通过报告此类样品的体寿命来确保后续生产的硅片可作为高效电池的材料。该设备质量控制和工艺改进的帮手。LIS-B3的设计是与领先的硅块和硅碇生产商缜密磋商的结果。硅块和硅碇由人工或者机械装载。测量速率能够满足100%产品检测。 它可以轻松适配多数电池设计和分选设备
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光致发光(PL)扫描测试系统

FPM快速光电流扫描显微系统适用于有机,钙钛矿材料, 可轻松进行光电流与晶粒分布测量。
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IPCE-R量子效率测试系统

IPCE-R量子效率测试系统是根据IEC 60904-8所设计与研发制造的一款从事高效率太阳能电池研发、提高其材料能隙的检测工具。采用非破坏性的检测技术,可以直接量测电池样品,量测时不需要真空环境。另外,其绝佳的讯噪比与高分辨率的讯号撷取能力,可提供快速与准确的量测结果。一体式设计,操作简单、高性价比与卓越的技术支持,IPCE-R也可依客户需求与手套箱进行整合,适用于各式太阳能电池与光电探测器的研究。
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LSS-55稳态太阳光模拟器

LSS-55太阳光模拟器是按照国际法规IEC 60904、ASTM与JIS所研发设计的AAA等级太阳光模拟器。50 mm x 50 mm 的光斑尺寸,搭配光强衰减器,让用户可以自行调整光斑强度,快门控制时间可从0.1S—9990 Hours。另外,LSS-55也提供灵活的出光方向来符合用户的研究需求,用户可以选择标准的垂直出光方向或是水平出光方向,并与手套箱进行整合。操作简单、高性价比与卓越的技术支持,适用于各式太阳能电池,光触媒,光催化以及车用光老化研究。
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单光源太阳光模拟器

以高压氙气灯为光源,用照度1SUN的光线照射测试样品,其光谱近似于地表接收到的太阳光谱(AM1.5G) 不仅限于研究、开发,亦适用于太阳能电池生产线的性能测试。
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便携式接触角测量仪

表面质量控制从未如此简单可靠 便携式接触角测量仪Ayríís摆脱了因人为干预造成测量结果不同的问题,采用了开创性的技术对润湿性进行可靠的QC检测。只需单击一次,几秒钟内即可测量水的3D接触角,根据预设的质量标准,仪器会在自动验证后显示验证通过/失败的信息。Ayríís采用了先进的3D水滴投影技术可实现自动自检,且保证每个测量结果的一致性和合理性。Ayríís是一款便携的、独立的仪器,配有易于更换的充电电池和预填充液体盒,以供生产线全天候工作。
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Hoenle太阳模拟器 - SOL 灯具完整的SOL 500系统

Hoenle太阳模拟器 - SOL 灯具 HoenleSOL单元在全球范围内用于许多行业的太阳模拟,并满足例如符合IEC 60904-9的固定式太阳模拟器的要求。 在生物技术方面,Colipa 标准和 OECD 432 体外 3T3 NRU 光毒性测试明确规定了使用 Hönle SOL 单元。 提供 3 种功率分类:SOL 500、SOL 1200、SOL 2000 可集成在气候室中 辐射光谱与自然阳光相似 辐射强度取决于距离 无臭氧灯泡,使用寿命长 轻松更换灯泡
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反射式数字全息显微镜DHM-R

数字全息显微镜(Digital holographic microscopy,简称DHM)是数字全息技术在显微领域的应用,也被称为全息显微术。与其他显微技术相比,数字全息显微镜并不直接记录被观测物体的图像,而是记录含有被观测物体波前信息的全息图,再通过计算机对所记录的全息图进行数值重建来得到被测物体的相位和振幅(光强)信息,进而完成数字三维重构。打个形象的比方来理解数值重建这个过程,就是利用计算机算法代替传统光学显微镜中的成像透镜。 反射式数字全息显微镜DHM®系列(DHM-R1000, DHM-R2100 和 DHM-R2200) 通过收集样品表面的反射信号进行测量,因此在探测反射或部分反射的样品时使用较为理想。此型号的全息显微镜能够探测反射率低至1%的样品,因此作为光学轮廓仪广泛适用于各种样品。
0.000 (CNY)

3A稳态太阳光模拟器

本产品为稳态太阳光模拟器,提供AAA 级别的180mm x 180mm 有效光斑. 具备4 通道光谱调整滤片插槽,光谱匹配度符合GB/T 6494-2017 规定的A 级标准(350nm-1800nm)。
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MDPpro 850+少子寿命测试仪

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。 用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。
25.000 (CNY)

182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪

适用于 182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪。 MX204-8-73-q 可作为手动加载的独立工具使用,也可完全集成到自动化机器人系统中。它有 73 个测量点,能以高分辨率控制厚度、弯曲度和翘曲度。通过上游定心站,不同尺寸的晶片无需更换即可使用。配有功能强大的MX-NT 操作软件。
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MX 301-AC单点测厚仪

简便的单点测厚仪,适用于 30-200 毫米的半导体和金属材料。 MX301-AC 是一款坚固、稳定的仪器,可用于快速、简单的手动测厚。适用于各种硅片、太阳能晶片以及半导体或金属材料。完全自校准,无需测量块或基准晶片。内置 5 位数显示屏。可独立工作,也可通过串行接口与 PC 连接,从而收集多个测量数据,计算单个晶片或整批晶片的平面度(TTV)、平均值或标准偏差。
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iGrapher 大型紫外直写光刻系统

iGrapher 大型紫外直写光刻系统
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MX 152/153 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪

用于 125 毫米、156 毫米至 230 毫米太阳能晶片的 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪。 MX152/153 是一种在线模块,适用于皮带传送的硅片。它可在自动化生产流程之间测量厚度、平面度(TTV),也可选择测量电阻率和 P/N 值。由测量模块、电子支架和控制计算机组成。测量值将通过以太网和 TCP/IP 传输到主机。
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光致发光(PL)扫描测试系统

FPM快速光电流扫描显微系统适用于有机,钙钛矿材料, 可轻松进行光电流与晶粒分布测量
0.000 (CNY)

全自动激光划片机

划片机是我司设计开发 的第三代激光划片机。 其主要应用于太阳能行 业单晶硅、多晶硅电池 片和硅片的划片和刻 槽;电子行业硅、鍺、 砷化镓等半导体衬底材 料的划片和切割等。该 设备由专家精心设计, 与传统 YAG 划片机相 比,光纤激光具有的优 势是:更优质的光束质量、速度快、能耗低、免维护、体积小。由于整体采用自动控制系统,简易的操作和低维护,使得该款机型具有更高的生产效率。
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Up to 8″ ResMap 178

Up to 8″ ResMap 178
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Bestsellers

太阳光谱辐射计 S-9011

它测量太阳模拟器和自然阳光在300~1500nm范围内的光谱发射光谱,并支持对所有类型的太阳能电池的评估,包括多结和CIS。 此外,每 1 毫秒进行一次高速时间分辨测量,可以精确分析脉冲太阳模拟器的光谱分布。 在设计方面,针对太阳模拟器测量进行了优化,还可以实现与脉冲光的简单同步测量。 入射光学系统采用具有优异余弦性能的反射扩散器,是一种多功能仪器,可应用于多种应用,支持确定是否符合多种标准。
1,300.000 (CNY)

MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms(样品电阻率>0.3Ohmcm)SEMI标准PV9-1110
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MDPspot 单点少子寿命测试仪

低成本桌面单点测量硅片或晶砖,用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品,无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品,高达156毫米硅砖,结果可视化的标准软件。
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Ingot XRD - 晶锭X射线定向仪

晶锭XRD有着xian进的XRD系统,用于单晶晶锭的自动定向、倾斜和对准研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多种材料。
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