MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪

Name: MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪
SKU: MDPpro 850+
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用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms（样品电阻率>0.3Ohmcm）SEMI标准PV9-1110

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技术参数

技术规格材料单晶硅晶锭尺寸 125×125至210×210mm2，晶砖长850mm或更长晶圆尺寸直径可达300 mm 电阻率范围 0.5 – 5 ohm cm。根据要求提供其他范围导电类别 p/n 可测量的参数寿命-μPCD/MDP（QSS）、光电导率、电阻率等默认激光器 IR激光二极管（980 nm，最大500 mW）和IR激光二极管（905 nm，最大9000 mW）。可根据要求提供其他波长电力要求 100 – 250 V AC, 6 A 尺寸 (宽×高×长) 2560 × 1910 × 1440 mm 重量约200kg 认证根据ISO 9001准则制造，符合CE要求

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