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Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
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