MDPspot 单点少子寿命测试仪

低成本桌面单点测量硅片或晶砖,用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品,无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品,高达156毫米硅砖,结果可视化的标准软件。
商品库存单位(SKU): No.MDPspot
25.000 (CNY)

桌面单点测量 
低成本的台式少子寿命测量系统,对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。没有内置自动化。可选配手动z轴,用于厚度在156毫米以下的晶圆。
用于非接触和非破坏的少子寿命测试
符合半导体行业标准SEMI PV9-1110
|硅|化合物合半导体|氧化物|宽带隙材料|钙钛矿|外延层
[ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ] 结果可视化的标准软件。 

特性

无接触和非破坏的电学参数测试;
对外延工艺监控和不可见缺陷检测,具有高分辨的可视化测试;
对于不同级别晶圆片,提供不同的菜单选项;

优势

用于不同制备阶段,从成体到最终器件,多晶硅或单晶硅单点测量载流子寿命的台式装置。
体积小,成本低,使用方便。拥有一个基本的软件,结果可视化。
适用于晶圆片到晶锭,易于高度调整。


其它

允许单片调查
不同种类晶圆片有不同的菜单
监控材料、工艺质量和稳定性
技术参数
样品 不同工艺处理样品,如钝化或扩散后的单晶或多晶硅晶圆、晶锭、电池等 样品尺寸 50 x 50 mm² 到12“ 或210 x 210 mm² 材质 硅晶圆,晶锭,部分或全部加工晶圆,化合物半导体和其它类型 少子寿命检测范围 20ns到几十ms 尺寸 360 x 360 x 520 mm,质量:16 kg 电源 110/220 V, 50/60 Hz, 3 A
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Some sample review
5
This sample review is for the $25 Virtual Gift Card. I've been waiting for this product to be available. It is priced just right.
John | 2025/10/11 上午8:44
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