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便携式接触角测量仪

表面质量控制从未如此简单可靠 便携式接触角测量仪Ayríís摆脱了因人为干预造成测量结果不同的问题,采用了开创性的技术对润湿性进行可靠的QC检测。只需单击一次,几秒钟内即可测量水的3D接触角,根据预设的质量标准,仪器会在自动验证后显示验证通过/失败的信息。Ayríís采用了先进的3D水滴投影技术可实现自动自检,且保证每个测量结果的一致性和合理性。Ayríís是一款便携的、独立的仪器,配有易于更换的充电电池和预填充液体盒,以供生产线全天候工作。
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接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+

接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 前金属化的接触电阻是对丝网印刷太阳能电池的总串联电阻的重要贡献。 具有合适测试结构的转移长度方法是将接触电阻与其他串联电阻效应分开的最佳方法。 然而,接触电阻可以在太阳能电池上显着变化,因此需要在成品太阳能电池上以空间分辨率测量它的方法。 TLM-SCAN产生太阳能电池的接触电阻率的映射,该太阳能电池用激光或切割锯切割成条纹。 右侧的映射显示了分辨率和可重复性,因为它显示了14次测量的相同条带。 接触电阻率测量仪 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率,手指线电阻,手指宽度和手指高度,或者测试结构。 通过在所有轴上电动化,可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头,使得TLM-SCAN 成为一种低成本,快速,高质量的四点探针贴图仪。 使操作更简单的功能: 自动位置校正以获得最佳接触质量 盖子关闭时自动启动 自动采样编号 软件探头识别 精确的导航与欢乐棒和显微镜相机 通过点击图像来探测定位和重新测量单点 一个样品上多个TLM测试图案的批处理模式 序列模式通过按一个按钮来测量接触电阻率和手指几何图形的映射
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PIDcon bifacial 台式潜在诱导退化测试仪

特性 根据IEC 62804-TS标准方法 易于使用的台式设备 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块 无需气候室 不需要电池层压 测量速度:小时到天 可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度 太阳能电池可以通过EL等进行研究 基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持
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Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
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WEP电化学ECV掺杂浓度检测CVP21

德国WEP公司的CVP21电化学C-V剖面浓度测试仪可高效、准确的测量半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀,从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制。 电化学ECV剖面浓度测试仪主要用于半导体材料的研究及开发,其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。CVP21电化学C-V剖面浓度测量仪适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上,例如:硅、锗、III-V族化合物半导体(如GaN)。
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