Sinton Instruments

Sinton Instruments 公司最初由Ron Sinton在1992年成立,起初公司名为Sinton Consulting。公司致力于开发用于晶硅太阳能电池和集成电路研发和制造的新的工具和分析技术。我们的目标是能让最先进的器件物理知识和测量技术应用于日常的研发和生产中。

我们通过提供物理严谨、简单、经济实用的测试工具和分析技术,解决研发和制造工艺控制中的实际问题。

世界各地正在使用的少子寿命测试仪已超过600台。很多科研或工业界所发表论文常常是围绕着该仪器的测试结果展开。该测试技术也成为全世界范围内实验室进行寿命测试的行业标准。
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Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
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BCT-400 少子寿命测试仪

Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
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Sinton BLS-1 少子寿命测量仪

Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
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