Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。