图片 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
制造商: Sinton Instruments
商品库存单位（SKU）: WCT-120
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项目 内容
测量参数 少子寿命、电阻率、发射极饱和电流密度、陷阱浓度、标准太阳下Voc
寿命测量范围 100nm-10ms
测量（分析）模式 QSSPC，瞬态和归一化寿命分析
电阻率测量范围 3-600（未掺杂）Ohms/sq
可得到的偏压范围 0-50suns
可得到的光谱 白光和红外光
感应范围 直径40mm
样品尺寸，标准配置 标准直径：40-230mm
硅片厚度范围 10-2000um
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