波前分析仪Phasics

随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生，从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何象差或面形误差；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。波前传感器用于波前信息探测，光束质量评价，光学元件检测和激光大气通信及人眼像差测量等各个领域，也广泛地应用于自适应光学系统之中。

法国PhasicsSID4系列波前传感器

                  -----四波横向剪切干涉波前传感器

产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪（上海瞬渺光电代理），基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的专利技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

主要应用领域：

1.       激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数

2.       自适应光学：焦斑优化，光束整形

3.       元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径

4.       光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制

5.       热成像分析，等离子体特征分析

6.       生物应用：蛋白质等组织定量相位成像

产品特点：

1.       高分辨率：最多采样点可达120000个

2.       可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准

3.       消色差：干涉和衍射对波长相消

4.       高动态范围：高达500μm

5.       防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试

 型号参数：